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荷蘭ASI Chee-tah120用于透射電鏡電子衍射的探測器相機
荷蘭ASI Chee-tah120用于透射電鏡電子衍射的探測器相機
  • 荷蘭ASI Chee-tah120用于透射電鏡電子衍射的探測器相機

荷蘭ASI Chee-tah120用于透射電鏡電子衍射的探測器相機

產品報價:1元

更新時間:2019/11/13 11:45:36

地:荷蘭

牌:ASI

號: Chee-tah120

廠商性質: 生產型,

公司名稱: 南京覃思科技有限公司

產品關鍵詞: 探測器相機   透射電鏡電子衍射   高性能探測器相機   樣品處理   電子顯微鏡  

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蘇海 : () (025-85432178)

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荷蘭ASI Chee-tah120用于透射電鏡電子衍射的探測器相機用于透射電鏡電子衍射的高性能探測器相機

ASI的Chee-tah是一種適合于電子顯微鏡應用的混合像素探測器。Chee-tah卓越的靈敏度和速度為獲得電子衍射、成像及斷層掃描提供了前所未有的可能性。Chee-tah 含有一個硅二極管傳感器,硅二極管被分成512x 512或1024 x 1024的像素陣列。每個像素通過bump-bonds與集成在芯片上的讀出電子器件相連,芯片位于傳感器下方。每個像素的電子器件單獨處理來自該像素傳感器的信號。每個獨立像素對其相應區域中檢測到的事件進行計數和處理。閃爍體CCD探測器探測不到噪聲量級的微弱信號,而Chee-tah可以獲得。與其它類型的直接探測器相機比較,Chee-tah的動態范圍非常大,電子束靈敏度很高,常用于衍射實驗。Chee-tah的高速特點使之成為觀察動態過程和捕捉快速衰減信號的理想工具。

用于透射電鏡電子衍射的高性能探測器優點:

1)ASI的新型超高靈敏探測器提供了一種通過電子衍射研究微米和納米尺度晶體的解決方案,并可以安裝在現有的透射電鏡底部。高靈敏度以及高讀出速率及寬動態范圍使得用戶能夠收集遠超過CCD和CMOS相機所限制的數據。對(4D)STEM應用來說,這意味著能夠對大面積進行快速掃描。

2)多功能設計使我們的探測器向后兼容幾乎所有的電子顯微鏡,也可進一步調整以滿足用戶新需求。

3)X射線晶體學是測定蛋白質和其它光束敏感材料之原子結構最常用的方法。要獲得高分辨率的X射線數據,通常需要比較大的晶體。然而,在許多情況下,只生長出微米或納米尺度的晶體。最近的研究結果表明,微米和納米尺度晶體可以用TEM電子衍射來研究。

 荷蘭ASI Chee-tah120用于透射電鏡電子衍射的探測器相機

應用領域:

能量分辨X射線

計算機斷層掃描

快速生產線X射線檢查

電子顯微鏡

質譜

 

 

Chee-tah120

Timepix - 262k

Chee-tah120

Timepix - 1MP

Chee-tah1800

Medipix3 - 262k

Pixels(55um)

512x512

1024x1024

512x512

Sensitive Area

2.8 x 2.8 cm

5.6 x 5.6 cm

2.8 x 2.8 cm

Max Speed

120 Hz

120 Hz

1800 Hz

Counter Depth

13.5 bit

13.5 bit

12 bit

Sensors

Si, GaAs

Si, GaAs

Si, GaAs

Connection

1 GB Ethernet

4 x 1 GB Ethernet

10 GB Ethernet

Operation

Counting, TOA, TOT

Counting, TOA, TOT

Counting, CSM

 

型號及配置:

荷蘭ASI公司(Amsterdam Scientific Instruments B.V.)出品的Chee-tah系列用于TEM ED的光子計數型混合像素探測器相機有多種型號及配置可選:

1)可選型號:

Chee-tah 120(Timepix技術,ToT、ToA等應用,幀頻120f/s,閾值數1個);

Chee-tah 1800(Medipix3RX技術,CSM&SPM模式等應用,幀頻1800f/s,閾值數1或2個);

另可供LynXT3(Timepix3技術,ToT、ToA、光子時間戳、速度映射成像和符合成像等應用,可與同步加速器或自由電子激光等配套,時間分辨率1.6納秒,超高速幀頻>500 MHz,閾值數1個)等。

2)可選傳感器材料類型:Si, GaAs, CdTe, ...   常用硅,可選砷化鎵(高能量用途),碲化鎘(更高能量用途)。

3)可選傳感器厚度:300um/500um/1000um(標配300um,高能量應用請選較厚的厚度)

4)可選像素數:65k、262k、524k、1M、2M等不同活區面積。

 

上述總有一款及其配置適合您的TEM ED晶體學分析和結構解析以及X射線檢測和成像應用,歡迎選購!




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